80%的電子產品損壞大都來源于跌落磕碰，研發人員往往耗費很多的時間和本錢，針對產品做相關的質量實驗，常見的可靠性測驗就是跌落實驗。跌落實驗是為了電子產品包裝后在模仿不同的棱、角、面與不同的高度下跌于地面時的情況，然后了解產品受損情況及評價產品包裝組件在下跌時所能承受的蛻化高度及耐沖擊強度，然后依據產品實際情況及國家規范范圍內進行改善、完善包裝設計。

 　　跌落試驗的方法有：
　　跌落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應以產品規格或客戶測試規范來決定)。
 
　　對于不同國際規范即使產品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產品(如手機,MP3等)大多數掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機)則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數、跌落方向。
 
　　跌落測試的原理——將包裝件按規定高度跌落于堅硬、平整的水平面上，評定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對內裝物保護能力的測試。跌落測試，又名drop test/HG-318。
 
　　跌落測試參考標準
　　GB／T 4857.1-2019包裝運輸包裝件基本試驗第1部分：試驗時各部位的標示方法
　　GB/T 4857.23-2012包裝運輸包裝件基本試驗第23部分：隨機振動試驗方法
　　GB/T 4857.5-1992包裝運輸包裝件跌落試驗方法
　　GB/T 4857.17-2017包裝運輸包裝件基本試驗第17部分：編制性能試驗大綱的通用規則
　　GBT4857.18-1992包裝運輸包裝件編制性能試驗大綱的定量數據
 
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