HAST試驗，即高加速溫濕度應力測試，也被稱為高壓蒸煮試驗。它是一種以溫濕度為環境參數的高加速電子元器件可靠性測試方法。HAST試驗旨在通過提高測試室中的水蒸氣壓力至遠高于測試樣品內部水蒸氣分壓的高水平，以評估測試樣品的耐濕性。

關于HAST測試標準，與高溫/高濕測試（85°C/85百分 之 RH）相比，HAST試驗由于濕氣驅動的腐蝕和更多的絕緣劣化，更易導致組件接觸。因此，HAST試驗主要適用于塑料密封組件。下表列出了較常見的HAST相關測試標準。值得注意的是，在電子元件通電的情況下進行的測試通常屬于不飽和類型。

HAST試驗流程

HAST試驗的控制方式主要涵蓋干濕球溫度控制、不飽和控制以及潤濕飽和控制三種類型。干濕球溫度控制通過專用的干濕球溫度傳感器，實現對測試室內溫度和濕度的直接監測與調控。而潤濕飽和控制和不飽和控制則專門用于在100百分 之相對濕度條件下進行測試。

不同控制方式對測試樣品上冷凝機制的影響各有特點。當采用潤濕飽和控制進行100百分 之相對濕度條件下的測試時，測試箱加熱器將關閉，僅通過控制加濕加熱器來維持環境狀態。此時的環境條件類似于在無空氣的環境中煮沸的水。

相對地，若采用不飽和控制，打開的測試室加熱器會導致環境產生輕微的不飽和傾向。

武漢金測檢測作為第三方檢測機構，擁有實體實驗室，致力于為廣大客戶提供包括HAST試驗在內的一系列測試服務。我們深入解讀HAST試驗的測試標準與操作流程，確保客戶能夠充分了解并應用相關知識。