GJb 150.3A-2009軍工裝備試驗(yàn)室高溫環(huán)境試驗(yàn)主要用來評(píng)價(jià)在高溫環(huán)境中使用的裝備，用來評(píng)價(jià)高溫條件對(duì)裝備的平安性、完整性和性能的影響。武漢金測實(shí)驗(yàn)室具備Gjb 150.3A-2009標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供軍工電子元器件GJb 150.3A高溫試驗(yàn)、元器件二次篩選服務(wù)。湖北第三方GJb 150.3A高低溫試驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)哪家比較好？
 
　　一、GJb150.3A高溫試驗(yàn)所能引發(fā)的產(chǎn)品故障：
　　1、不同材料膨脹不一致導(dǎo)致零部件相互咬死；
　　2、固定電阻的阻值改變；
　　3、工作壽命縮短；
　　4、高聚物材料褪色、裂解或龜裂紋；
　　5、電子線路穩(wěn)定性發(fā)生改變等。
 
　　二、試驗(yàn)流程
　　GJb150.3A-2009軍工裝備試驗(yàn)室高溫環(huán)境試驗(yàn)包括兩個(gè)試驗(yàn)程序：高溫貯存試驗(yàn)和高溫工作試驗(yàn)。
 
　　高溫貯存試驗(yàn)（循環(huán)貯存、恒定貯存）：主要用來考核貯存期間高溫對(duì)裝備的平安性、完整性和性能的影響。
 
　　高溫工作試驗(yàn)（循環(huán)工作、恒定工作）：主要用來考核裝備工作時(shí)高溫對(duì)其性能的影響。
 
　　高溫工作有兩種狀態(tài)，一種是連續(xù)工作，一種是等溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)工作。
 
　　三、GJb150.3A高溫試驗(yàn)時(shí)間要求：
　　1、高溫貯存試驗(yàn)：貯存試驗(yàn)至少進(jìn)行7個(gè)循環(huán)，一個(gè)循環(huán)為24小時(shí)。
　　2、高溫恒定貯存：試驗(yàn)時(shí)間一般不少于2小時(shí)。
　　3、高溫循環(huán)工作試驗(yàn)：工作暴露試驗(yàn)至少進(jìn)行3個(gè)循環(huán)，一個(gè)循環(huán)為24小時(shí)，若難以再現(xiàn)溫度響應(yīng)時(shí)，建議采用7個(gè)循環(huán)。
　　4、高溫恒定工作試驗(yàn)：試驗(yàn)時(shí)間一般不少于2小時(shí)。
 
　　四、GJb150.3A高溫試驗(yàn)檢測結(jié)果判定標(biāo)準(zhǔn)：
　　1、產(chǎn)品的外觀結(jié)構(gòu)應(yīng)無損壞；
　　2、高溫試驗(yàn)過程中或試驗(yàn)后，工作性能是否下降或改變。
 
　　五、參考標(biāo)準(zhǔn)
　　GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)；
　　GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán))；
　　GB/T 2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱；
　　GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)；
　　GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)；
　　IEC 60068-2-78-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2-78部分:試驗(yàn).試驗(yàn)箱:濕熱、穩(wěn)態(tài)；
　　IEC 60068-2-30-2005 環(huán)境試驗(yàn).第2-30部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Db:循環(huán)濕熱試驗(yàn)(12h+12h循環(huán))
 
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